Adaptive Bayes’sche Stichprobensysteme für die Gut-Schlecht-Prüfung

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Lenz, Hans-JoachimLenz, Hans-Joachim, Rendtel, Ulrich
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  • Formats: pdf
  • ISBN: 9783662110270
  • Publication Date: 2 Jul 2013
  • Publisher: Physica-Verlag HD
  • Product language: German
  • Drm Setting: DRM